X射線光電子能譜（XPS）是最常用的表面分析技術，在提高研究論證的嚴密性、加深理論分析深度、提高論文檔次方面，往往能起到畫龍點睛的作用。

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【書籍】《化學鍵能數據手冊》

【書籍】X-ray photoelectron spectroscopy

【書籍】An introduction to surface analysis by XPS and AES

【書籍】Auger- and X-Ray Photoelectron Spectroscopy in Materials Science_ A User-Oriented Guide?

【書籍】Handbook of X Ray Photoelectron Spectroscopy_ A Reference Book of Standard Spectra for Identification and Interpretation of XPS Data

【書籍】Hard X-ray Photoelectron Spectroscopy (HAXPES)

【書籍】X-ray Photoelectron Spectroscopy An Introduction To Principles And Practices

【書籍】High Resolution XPS of Organic Polymers—The Scienta ESCA300 Database

【書籍】Surface Analysis of Polymers by XPS and Static SIMS

【標準】GBT 30704-2014 表面化學分析X射線光電子能譜分析指南

【標準】SJT 10458-1993 俄歇電子能譜術和X射線光電子能譜術的樣品處理標準導則

【標準】GB∕T 31470-2015 俄歇電子能譜與X射線光電子能譜測試中確定檢測信號對應樣品區域的通則

【標準】GB∕T 33502-2017 表面化學分析X射線光電子能譜（XPS）數據記錄與報告的規范要求

【標準】GB∕T 36401-2018 表面化學分析X射線光電子能譜薄膜分析結果的報告

【標準】GBT 22571-2008 表面化學分析X射線光電子能譜儀能量標尺的校準

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